基礎型膜厚儀（紫外/近紅外-高分辨率）

FR-pRo VIS/NIR基礎型膜厚儀（紫外/近紅外-高分辨率）光譜范圍：350-1000nm ：

Α)鹵鎢光源系統Tungsten Halogen light source 全軟件控制的光譜范圍和輻照強度。

小型光譜儀光譜范圍(350nm-1000nm)，分辨精度可達3648像素， 16位級 A/D 分辨精度；配有USB通訊接口；

光學連接器SMA 905, 光譜儀功率：110VAC/230VAC – 60Hz/50Hz.

10mm厚度的氧化鋁面板，每英寸（25mm）間距，配有M6 (or ¼”) 口徑鉆孔，用以安裝光學部件。

樣品放置臺，配有多點Z軸聚焦和X-Y軸移動調節。反射探針夾具調節范圍 (200mm – 200mm – 60mm)，可在測試區域內精準調節。

Β) FR-Monitor膜厚測試軟件系統，

可精確計算如下參數：

1）單一或堆積膜層的厚度；

2）靜態或動態模式下，單一膜層的折射率；本軟件包含了類型豐富的材料折射率數據庫，可以有效地協助用戶進行線下或者在線測試分析。本系統可支持吸收率，透射率和反射率的測量，還提供任何堆積膜層的理論性反射光譜，一次使用授權，即可安裝在任何其他電腦上作膜厚測試后的結果分析使用。

C) 參考樣片：

a) 經校準過的反射標準硅片；

b) 經校準過的帶有SiO₂/Si 特征區域的樣片；

c) 經校準過的帶有Si₃N₄/SiO₂/Si特征區域的樣片；

D) 反射光學探針

系統內嵌6組透射光探針200μm, 1組反射光探針200μm；