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光學(xué)膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀
FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：
半導(dǎo)體、有機電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學(xué)傳感……
FR-uProbe系列
聯(lián)系人：鄧經(jīng)理
地址：洪山區(qū)珞獅南路147號未來城A棟
郵箱：sales@mycroinc.com
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