立式反射率測試儀

SM120 立式反射率測試儀

在太陽能電池制造領域，獲得太陽能硅片的反射率對生產的控制及研究有著極其重要的意義，但由于絨面的特殊表面，使得測量其反射率變得十分困難。

我們根據ISO7724和DIN5033標準結合多年光譜儀器研發經驗全新推出全自動八度角積分式反射儀SM120正是針對這一問題的解決方案，SM120立式反射率測試儀應用在電池片制絨工序監控環節，為客戶電池片質量品質把控，降低損耗提供了有效的檢測方案。

1.產品特點：

·全自動電腦控制，自動校準，快速準確測量;

·支持全自動二維掃描(Mapping);

·自動計算多點平均反射率;

·超長壽命光源;

·結構設計合理，操作簡單，維護方便;

·保障設備穩定運行而無需經常校準。

2.應用領域：

·半導體鍍膜    ·光學鍍膜     ·液晶顯示    

·微電子系統    ·生物醫學

3. 選型與規格參數：

光學膜厚儀通過測量薄膜的光學性質來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發生干涉現象。當光線穿過薄膜時，會發生反射和透射，反射和透射的光線會發生干涉，形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征，可以計算出薄膜的厚度。

光學膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測量反射光的強度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學鍍膜、涂層、光學薄膜等。通過光學膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度，廣泛應用于光學、電子、材料等領域。