MC方案｜如何快速無損測量多層鈣鈦礦薄膜厚度？

鈣鈦礦廣泛用于太陽能電池的開發(fā)。由于這些類型的太陽能電池具有良好的光伏性能，因此對它們進行了系統(tǒng)的研究。鈣鈦礦薄膜的厚度和形態(tài)是影響太陽能電池性能的重要因素。人們發(fā)現(xiàn)，特別當鈣鈦礦的厚度小于400nm時，鈣鈦礦太陽能電池的效率很大程度上取決于薄膜厚度；而當鈣鈦礦的厚度大于400nm時，效率則很大程度上取決于鈣鈦礦層的薄膜形態(tài)。在本篇方案說明中，我們使用FR-pRo VIS/NIR測量鈣鈦礦薄膜的厚度。

 FR-pRo VIS/NIR

測量方法：用于表征的樣品是兩種不同厚度的CH3NH3PbBr3鈣鈦礦薄膜，它們位于標準ITO/SiO2/Soda-lime基底上，如圖1所示。使用ThetaMetrisis FR-pRo VIS/NIR進行反射測量，在350-1020nm的光譜范圍內(nèi)操作。

 結(jié)果：兩種樣品的典型獲得的反射光譜（黑線）和擬合的反射光譜（紅線），如FR監(jiān)控軟件所示，分別在圖2a 和 圖2b中所示。兩種測量方法的擬合在500-750nm光譜范圍內(nèi)進行，樣品1中鈣鈦礦薄膜的厚度在516.9nm處測量，而樣品2中的厚度在394.4nm處測量。

 圖2a：樣品1的實驗和擬合反射光譜，在515nm處測得的厚度。

圖2b：樣品2的實驗和擬合反射光譜，在392nm處測得的厚度。

膜厚儀操作便捷，分析結(jié)果快速準確，多款型號，可滿足廣泛的應用范圍，后期我們將持續(xù)為您推送更多實際應用案例，希望幫助您達到實驗結(jié)果Z 優(yōu)化。